新推出的科研级光谱仪
QE65000光谱仪将探测器、光学平台和电子学的最新科技结合在一起，提供极高的光谱响应能力和光学分辨率，它是进行科学研究的有力工具。
量子效率高达90%
QE65000光谱仪采用了Hamamatsu S7031-1006 FFT-CCD 面阵探测器，具有高达90%的量子效率（量子效率被定义为，光子转换为光电子的效率）。对于二维的面阵CCD，我们对像素进行纵向的运算，显著地提高了信噪比和信号处理速度。而目前大部分用户所使用的线性CCD，获取的信号需要由外部电路来做运算。
提高系统的灵敏度
在我们采用线性CCD的光谱仪中，狭缝宽度，而不是它的高度，调节了进入光学平台的光通量，因为线性的CCD不能有效地收集通过整个狭缝高度的光。但是对于QE65000，二维的面阵探测器可以更好地利用由于狭缝高度所获得的额外入射光，大大地提高了系统的灵敏度。
背照式探测器：优秀的紫外响应
因为QE65000采用了背照式的探测器，所以它在紫外区具有与生俱来的极高的响应，并且不需要额外的镀膜（通常我们需要对用于紫外的探测器做镀膜）。
苛刻的低亮度条件下的应用
QE65000光谱仪非常适合于低亮度的应用，例如荧光测量，拉曼光谱，DNA测序，天文学和薄膜反射率测量。热电致冷的探测器（降温达到-15 °C）具有低噪声和低暗背景信号的特点，有利于在低亮度条件下探测和长时间的积分（从7毫秒到15分钟）。
电路板编程
QE65000中配有一个板载可编程微控制器，用来控制光谱仪和附件。有10个可编程数字输入/输出端口以及一个用于触发其他设备的脉冲发生器，供您使用。
技术规格:
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物理参数 |
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尺寸: |
182 mm x 110 mm x 47 mm |
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重量: |
1050 克 |
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探测器 |
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探测器: |
Hamamatsu S7031-1006 背照式CCD探测器 |
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探测器范围: |
200-1100 nm |
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像素: |
1024 x 58 (1044 x 64 全部像素) |
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像素尺寸: |
24.576 平方微米 |
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像素阱深: |
300,000 电子/阱; ~ 1.5 百万 电子/柱 |
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灵敏度: |
22 电子/计数值 对于所有波长; 250 nm: 26 光子/计数值 |
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量子效率: |
峰值90% |
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光学平台 |
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设计: |
f/4, 对称式Czerny-Turner交叉光路 |
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焦距: |
101.6 mm 入射和出射焦距 |
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入射孔径: |
5, 10, 25, 50, 100或200 微米狭缝或者光纤 (没有狭缝) |
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光栅选择: |
14 种不同光栅选项, 覆盖从紫外到近红外波段 |
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HC-1光栅选项: |
提供 200-950 nm 波长范围 |
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探测器集光透镜: |
无 |
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OFLV滤光片选项: |
OFLV-QE |
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其他滤光片选项: |
长通 OF-1 滤光片 |
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准直和聚焦镜: |
标准配置 |
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紫外线增强窗镜: |
无 |
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光纤连接器: |
SMA 905到 0.22数值孔径单独光纤 |
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光谱仪参数 |
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波长范围: |
取决于光栅 |
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光学分辨率: |
~0.14-7.7 nm FWHM |
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信噪比: |
1000:1 (在全部信号l) |
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A/D 转换分辨率: |
16 bit |
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暗噪声: |
3 RMS counts |
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动态范围: |
7.5 x 109 (系统), 25000:1对于单次获取信号 |
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积分时间: |
7 ms 到 15 min |
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杂散光: |
<0.08% at 600 nm; 0.4% at 435 nm |
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校正线性度: |
>99.8% |
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电子学参数 |
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功耗: |
500 mA @ 5 VDC (没有TE热电致冷); 3 A @ 5 VDC (有TE热电致冷 ) |
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数据传输速率 |
全幅扫描通过USB 2.0端口到达内存需要7ms, USB1.1 端口需要18ms, 串口需要300 ms |
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输入/输出: |
10 板载用户可编程 GPIOs 通用输入/输出端口) |
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模拟通道: |
否 |
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自动清零: |
否 |
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外置扩展盒: |
是, HR4-BREAKOUT |
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触发模式: |
4 种模式 |
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闸门功能: |
是 |
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门控延迟功能: |
否 |
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连接器: |
30-针连接器 |
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启动时间: |
<5 秒 |
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暗电流: |
4000 e-/pixel/sec @ 25 度; 200 e-/pixel/sec @ 0度 |
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计算机 |
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操作系统: |
Windows 98/Me/2000/XP, Mac OS X和 Linux，带有USB 端口; 任何 32位Windows操作系统，带有串口 |
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计算机界面: |
USB 2.0 @ 480 Mbps; RS-232 (2-线) @ 115.2 K 波特率 |
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外围接口: |
SPI (3-线); I2C内部集成电路 |
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温度和热电致冷 (TE) |
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温度范围: |
-15 度 到50.0 度; 无结露 |
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设置点: |
软件控制; 最低设置点为低于环境温度40 度, 达到 -15 度 |
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稳定性 |
相对于设置温度+/-0.1度， <2分钟内 |
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